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宜特检测 晶背FIB线路修改(Backside FIB)

文章来源:宜特检测 上传时间:2017-11-24 浏览次数:
文章摘要:IC晶背FIB线路修补,IC晶背FIB线路修改公司,宜特检测晶背FIB线路修改(Backside FIB)FIB在芯片开发过程中,FIB 已是广为使用的电路修改工具;目前的施作方式主要由芯片正面进行,但随着制程与封装技术演进面临到两大挑战:覆晶封装:因封装基材的限制无法从芯片正面施工,FIB电路修改须从晶背(Silicon)来进行。金属层数增加:随着制程演进,IC 所用的金属绕线层数增加,用传统方...

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晶背FIB线路修改(Backside FIB)

FIB在芯片开发过程中,FIB 已是广为使用的电路修改工具;目前的施作方式主要由芯片正面进行,但随着制程与封装技术演进面临到两大挑战:

  • 覆晶封装因封装基材的限制无法从芯片正面施工,FIB电路修改须从晶背(Silicon)来进行。

  • 金属层数增加随着制程演进,IC 所用的金属绕线层数增加,用传统方式由芯片正面对底层的金属绕线作修改难度越来越高。
    宜特已于数年前开始建立晶背 FIB 施工的相关技术,有实际经验可提供客户相关服务。若须进一步信息,请联络我们。

关于宜特:

iST始创于1994年的中国台湾,主要以提供集成电路行业可靠性验证、失效分析、材料分析、无线认证等技术服务。2002年进驻上海,全球现已有7座实验室12个服务据点,目前已然成为深具影响力之芯片验证第三方实验室。

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